Caracterizacao De Materiais Por Difracao De Raios X

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Ementa

Elementos de cristalografia; Producao e propriedades dos raios-X; Difracao de raios-X: direcao e intensidade dos raios-X difratados;Metodos experimentais; Aplicacao da difratometria de raios-X para determinacao da estrutura cristalina e parametros de rede, tamanhode particulas, tensoes residuais e textura cristalografia de soli-dos cristalinos. Desenvolvimentos recentes e sua aplicacao.

Código da disciplina: EMT894

Tipo da atividade: optativa

Créditos mínimo: 3

Carga horária (horas):

Teórica Prática Total
45 0