Ementa
Elementos de cristalografia; Producao e propriedades dos raios-X; Difracao de raios-X: direcao e intensidade dos raios-X difratados;Metodos experimentais; Aplicacao da difratometria de raios-X para determinacao da estrutura cristalina e parametros de rede, tamanhode particulas, tensoes residuais e textura cristalografia de soli-dos cristalinos. Desenvolvimentos recentes e sua aplicacao.
Código da disciplina: EMT894
Tipo da atividade: optativa
Créditos mínimo: 3
Carga horária (horas):
Teórica | Prática | Total |
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45 | 0 |